AXI
Automated X-ray inspection (AXI) е технологија заснована на истите принципи како и автоматизираната оптичка инспекција (automated optical inspection)-(AOI). Користи X-зраци како свој извор, наместо видлива светлина, за автоматизирана инспекција на свијства, коишто типично се скриени.
Зголеменото користење на IC (Integrated circuit/интегрални кола) со пакети како BGA (Ball grid array) каде што врските се под чипот и не се видливи, значи дека оптичката инспекција е неприменлива, Бидејќи врските се под чип пакетот има потреба да се осигура дека производствениот процес го акомодирал чипот коректно.[1]
Процес[уреди | уреди извор]
Ако врските се невидливи единствената алтернатива е да се користи инспекција со Икс зраци. AXI може да пронајде грешки како отвори, спојови, електронски делови кои недостасуваат, грешно наврзани компоненти. Овие инспекциски системи се многу поскапи од обичните, но тие можат да ги проверат сите врски, дури и тие под чип пакетот.
Поврзани технологии[уреди | уреди извор]
Наводи[уреди | уреди извор]
- ↑ „Automated Optical Inspection and X-Ray Inspection“. Архивирано од изворникот на 2007-09-09. Посетено на 2009-03-27.